環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中國(guó)可靠性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中國(guó)可靠性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

中國(guó)可靠性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 15174-1994 可靠性增長(zhǎng)大綱　 
GB/T 7289-1987 可靠性、維修性與有效性預(yù)計(jì)報(bào)告編寫(xiě)指南　 
GB/T 3187-1994 可靠性、維修性術(shù)語(yǔ)　 　 　 
GB/T 7826-1987 系統(tǒng)可靠性分析技術(shù) 失效模式和效應(yīng)分析（FMEA）程序　 
GB/T 7827-1987 可靠性預(yù)計(jì)程序
GB/T 7828-1987 可靠性設(shè)計(jì)評(píng)審
GB/T 7829-1987 故障樹(shù)分析程序
GB/T 4888-1985 故障樹(shù)名詞術(shù)語(yǔ)和符號(hào)　 　 　 
GB/T 5329-1985 試驗(yàn)篩與篩分試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)　 
GB 4793.1-1995 測(cè)量、控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分: 通用要求　 
GB/T 2689.1-1981 恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則　 
GB/T 2689.2-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法 （用于威布爾分布）　 
GB/T 2689.3-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的簡(jiǎn)單線性無(wú)偏估計(jì)法 （用于威布爾分布）　 
GB/T 2689.4-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的zui好線性無(wú)偏估計(jì)法 （用于威布爾分布）　 GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧氣加速老化試驗(yàn)方法　 
GB/T 9586-1988 熒光數(shù)碼顯示管加速壽命試驗(yàn)方法　 
GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則　 
GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備　 
GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備　 
GB/T 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備　 
GB/T 5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.11-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB 5170.13-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng) （正弦） 試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
GB 5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng) （正弦） 試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)　 
GB 5170.15-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng) （正弦） 試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
GB 5170.16-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗(yàn)用離心式試驗(yàn)機(jī)　 
GB 5170.17-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè) 
GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備　 
GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/ 振動(dòng) （正弦） 綜合試驗(yàn)設(shè)備 
GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備　 
GB 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A: 低溫試驗(yàn)方法　 
GB 2423.16-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)J:長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法　 
GB 2423.18-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kb: 交變鹽霧試驗(yàn)方法 （氯化鈉溶液）　 
GB 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc: 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法　 
GB 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd: 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法　 
GB 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) M: 低氣壓試驗(yàn)方法
GB 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) B: 高溫試驗(yàn)方法　 
GB 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方 
GB 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法　 
GB 2423.29-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝強(qiáng)度
GB 2423.30-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)XA: 在清洗劑中浸漬　 
GB 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法
GB 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
GB 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD: 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
GB 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/ 振動(dòng)（ 
GB 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(dòng)（正弦 
GB 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) L: 砂塵試驗(yàn)方法　 
GB 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) R: 水試驗(yàn)方法　 
GB 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee: 彈跳試驗(yàn)方法　 
GB 2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb: 設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)（正弦）　 
GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 一般要求　 
GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 高再現(xiàn)性 
GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 中再現(xiàn)性 
GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 低再現(xiàn)性 
GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka: 鹽霧試驗(yàn)方法　 
GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封　 
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa: 模擬地面上的太陽(yáng)輻射
GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM: 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM: 高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法　 
GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱　 
GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法　 
GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db: 交變濕熱試驗(yàn)方法　 
GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法　 
GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea） 
GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg: 撞擊 彈簧錘
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef：撞擊 擺錘
GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg: 聲振　 
GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff: 振動(dòng)—時(shí)間歷程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe: 振動(dòng)—正弦拍頻法
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則: 沖擊
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則： 碰撞
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則: 傾跌與翻倒 （主要用 
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed: 自由跌落　 儀器卷 
GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM: 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)　 開(kāi)關(guān)電器、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、電線電纜卷 
GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A: 低溫試驗(yàn)方法　 
GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉
GB/T 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) B: 高溫試驗(yàn)方法　 
GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度　 
GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬　 
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法　 
GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db: 交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加 
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則: 沖擊
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則： 碰撞
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則: 傾跌與翻倒 （主要用
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed: 自由跌落