溫度斜率循環(huán)箱適用于工業(yè)產品高、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關產品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標。
溫度斜率循環(huán)箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB10592-89高低溫試驗箱技術條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產品進行低溫、高溫試驗及恒定溫熱試驗。溫度斜率循環(huán)箱卓越的空氣流設計，試驗中對精度的梯度控制提高了試驗箱的溫濕均勻度，從而使試驗結果更加精確。
溫度斜率循環(huán)箱平滑流暢的外觀設計，該系列試驗箱的設計融入了人體工程學概念，箱體的前端和側面非常平滑。溫度斜率循環(huán)箱的觀察窗是完全可視的，且不凝露。可選擇的左開門和右開門得以適應不同的試驗室布局，大限度的利用了試驗室空間。而設備底部的小輪子增加了使用的方便性，用戶也可以選擇不銹鋼門。
dongg東莞環(huán)境試驗設備的可靠性測試
可靠性強化試驗(RET)用以暴露與產品設計有關的早期失效故障，但同時，也用于確定產品在有效壽命期內抗隨機故障的強度。加速壽命試驗的目的是找出產品是如何發(fā)生、何時發(fā)生、為何發(fā)生磨耗失效的。
下面分別對2種基本類型進行簡單闡述。 高低溫試驗箱
1、加速壽命試驗(ALT)
加速壽命試驗只對元器件、材料和工藝方法進行，用于確定元器件、材料及生產工藝的壽命。其目的不是暴露缺陷，而是識別及量化在使用壽命末期導致產品損耗的失效及其失效機理。有時產品的壽命很長，為了給出產品的壽命期，加速壽命試驗必須進行足夠長的時間。
加速壽命試驗是基于如下假設：即受試品在短時間、高應力作用下表現出的特性與產品在長時間、低應力作用下表現出來的特性是一致的。為了縮短試驗時間，采用加速應力，即所謂高加速壽命試驗(HALT)。
加速壽命試驗提供了產品預期磨損機理的有價值數據，這在當今的市場上是很關鍵的，因為越來越多的消費者對其購買的產品提出了使用壽命要求。估計使用壽命僅僅是加速壽命試驗的用處之一。它能使設計者和生產者對產品有更全面的了解，識別出關鍵的元器件、材料和工藝，并根據需要進行改進及控制。另外試驗得出的數據使生產廠商和消費者對產品有充分的信心。
加速壽命試驗的對象是抽樣產品。
2、可靠性強化試驗(RET)
可靠性強化試驗有許多名稱和形式，如步進應力試驗、應力壽命試驗(STRIEF)、高加速壽命試驗(HALT)等。RET的目的是通過系統(tǒng)地施加逐漸增大的環(huán)境應力和工作應力，來激發(fā)故障和暴露設計中的薄弱環(huán)節(jié)，從而評價產品設計的可靠性。因此，RET應該在產品設計和發(fā)展周期中zui初的階段實施，以便于修改設計。
國外可靠性的有關研究人員在80年代初就注意到由于設計潛在缺陷的殘留量較大，給可靠性的提高提供了可觀的空間，另外價格和研制周期問題也是當今市場競爭的焦點。研究證明，RET不失為解決這個問題的zui好方法之一。
它獲得的可靠性比傳統(tǒng)的方法高得多，更為重要的是，它在短時間內就可獲得早期可靠性，無須像傳統(tǒng)方法那樣需要長時間的可靠性增長(TAAF)，從而降低了成本。
