本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品按GB 2423.21《電L電r產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)I T&l:低氣壓試驗(yàn)方法》、GB 2423.25《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》G B 2423.26《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:，蕩溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)、低溫低氣壓綜合試驗(yàn)和高溫低氣壓綜合試驗(yàn)時(shí)，所用高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱(chēng)設(shè)備)基本參數(shù)的檢定方法。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB 5071.1-85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》一起使用。高低溫低氣壓試驗(yàn)箱
1檢定項(xiàng)目
1.1低氣壓誤差。
1.2氣壓變化速率。
1.3低溫低氣壓或高溫低氣壓綜合檢定溫度誤差、氣壓誤差。
1.4低溫低氣壓或高溫低氣壓綜合檢定氣壓變化速率。
1.5溫度變I率。
1.6工作室內(nèi)壁與工作空間溫差。
1.7_l:作室內(nèi)壁輻射系數(shù)。
1.8相對(duì)濕度。
1.9風(fēng)速。
2檢定用主要儀器
2.1氣壓測(cè)試儀器
采用標(biāo)準(zhǔn)水銀壓力表或其他類(lèi)似的氣壓表(計(jì))。
2.2溫度測(cè)試儀器
采用鉑電阻或其他類(lèi)似的傳感器，其時(shí)間常數(shù)不大于20s0測(cè)試設(shè)備工作室內(nèi)壁溫度，采用鉑電阻、熱電偶制成的表面溫度傳感器或其他類(lèi)似的儀器。
2.3輻射系數(shù)測(cè)試儀器采用輻射系數(shù)檢測(cè)器。
2.4相對(duì)濕度測(cè)試儀器采用恒溫恒濕試驗(yàn)箱或其他類(lèi)似的儀器。
2.5風(fēng)速測(cè)試儀器
采用風(fēng)速儀，其感應(yīng)量不低于0.05m/s.
檢定方法
3.1低氣壓誤差檢定方法
3.1.1本測(cè)試應(yīng)在GB 5071.1-85規(guī)定的負(fù)載(或按有關(guān)權(quán);準(zhǔn)的規(guī)定)條件下進(jìn)行。
3.1.2測(cè)試點(diǎn)為設(shè)備的氣壓指示點(diǎn)。
3.1.3檢定步驟
在設(shè)備低氣壓可調(diào)范圍內(nèi)，選取有代表性的試驗(yàn)標(biāo)稱(chēng)氣)kill作為檢定值。當(dāng)設(shè)備11作空間從常壓降至檢定氣壓時(shí)，穩(wěn)定30min,立即迸iF測(cè)試，在30min內(nèi)連續(xù)觀察測(cè)試氣壓表的氣壓1ft，每2 min測(cè)試1次，共測(cè)15次，再限30min測(cè)試1次，zui后隔1 h ii1lJ試1次，共測(cè)試2h,記錄表格參照附錄A中的表A1.
3.1.4數(shù)據(jù)枯理與結(jié)果分析
取測(cè)試氣壓表讀數(shù)的zui大值和zui小值，分別按儀器、溫度和重力修正值進(jìn)行修[F后與檢定氣壓值的差即為檢定氣壓值的誤差。檢定結(jié)果應(yīng)符合GB 2423.21的有關(guān)規(guī)定。
3.2氣壓變化速率檢定方法
3.2.1本測(cè)試應(yīng)在GB 5071.1-85規(guī)定的負(fù)載條件F進(jìn)行。
3.2.2測(cè)試點(diǎn)為設(shè)備的氣壓指示點(diǎn)。
3.2.3.檢定步驟
在設(shè)備氣壓可調(diào)范圍內(nèi)，選取有代表性的試驗(yàn)標(biāo)稱(chēng)氣壓值作為檢定值。自設(shè)備工作空間開(kāi)始降壓時(shí)，記錄從常壓降壓至檢定氣壓的降仄時(shí)間;然后關(guān)機(jī)，開(kāi)啟放氣閥，
3.3低溫低氣壓或高溫低氣壓綜合檢定溫度誤差、氣壓誤差的檢定方法。
3.3.1本測(cè)試應(yīng)在GB 5071.1-85規(guī)定的負(fù)載(或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定)條件下進(jìn)行。
3.3.2氣壓測(cè)試點(diǎn)為設(shè)備的氣壓指示點(diǎn)。
3.3.3溫度測(cè)試點(diǎn)數(shù)量及布放位置測(cè)試溫度誤差時(shí)，一般將設(shè)備_L作空間分為前、，!，、后(臥式)或上、中、下(立式)三層，并按規(guī)定位置布放一定數(shù)量的傳感器。測(cè)試點(diǎn)用英文‘筍母A,B、C……表示。
3.3.3.1設(shè)備容積小于或等于I m”時(shí)，溫度測(cè)試點(diǎn)為9個(gè)。測(cè)試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為一1:作童直徑(方形設(shè)備為工作室各邊長(zhǎng))的1/100 i}t備帶有格O架時(shí)，F(xiàn)層測(cè)試點(diǎn)可布放在底層樣品架上方10mm處。
3.3.3.2設(shè)備容積大于1 m3，小于或等于lOm”時(shí)，溫度測(cè)試點(diǎn)為13個(gè)，測(cè)試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為工作室直徑(方形設(shè)備為工作室各邊長(zhǎng))的1/10(遇有風(fēng)道時(shí)，是指與送風(fēng)口或回風(fēng)口的距離)。設(shè)備帶有科鉆吉架時(shí)，下層測(cè)試點(diǎn)可布放在底層樣品架上方l0mm處。
3.3.3.3設(shè)備容積大于lOm”時(shí)，溫度測(cè)試點(diǎn)為21個(gè)。測(cè)試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為工作室直徑(方形設(shè)備為工作室各邊長(zhǎng))的1/10(遇有風(fēng)道時(shí)，是指與送風(fēng)口和回風(fēng)口的距離)，但zui大距離不能大于500 m m。設(shè)備帶有樣品車(chē)時(shí)，下層測(cè)試點(diǎn)可布放在底層樣品車(chē)_七方10mm處。
3.3.3.4根據(jù)設(shè)計(jì)與試驗(yàn)要求，可在工作空間增加對(duì)疑點(diǎn)的測(cè)試。
3.3.4檢定步驟
在設(shè)備低溫低氣壓或高溫低氣壓可調(diào)范圍內(nèi)，選取有代表性的試驗(yàn)標(biāo)稱(chēng)氣壓值和試驗(yàn)標(biāo)稱(chēng)溫度值組成低溫低氣壓或高溫低氣壓的綜合檢定值。
